Ujian bakul bunga dipasang di antara pembersihan sebelum pemeriksaan dan penyusunan silikon wafer. Buang silikon wafer yang cacat untuk mengurangkan peluang henti mesin penyusun, dengan itu meningkatkan kapasiti pengeluaran keseluruhan.
Kongsikan
1). Latar belakang projek:
Kebutuhan projek:
Kerana silikon rosak yang tertinggal dalam mesin pengisian silikon, menyebabkan masa henti operasi, ia menjadi perlu untuk mengeluarkan secara manual silikon yang terpecah dari dalam mesin, yang memakan masa yang lama dan secara langsung mempengaruhi kapasiti pengeluaran. Pelanggan perlu mengeluarkan silikon wafer yang terpecah dari luar mesin pengisian, dan memastikan ruang pelepasan untuk beberapa kumpulan bakul bunga, supaya seorang pekerja boleh mengambil kira beberapa garisan, mencapai peningkatan produktiviti sambil mengelakkan pelaburan tenaga kerja yang besar.
Kebutuhan teknikal:
Wafer silikon dalam bekas diuji sebagai keseluruhan untuk mengesan sama ada wafer silikon dalam bakul bunga mempunyai banyak keping, sedikit keping, keping tebal, keping terpecah, dan sama ada wafer silikon mempunyai gigi salah. Produk yang cacat dipilih untuk meningkatkan kadar hasil. Masa CT yang diperlukan adalah dalam 3 saat.
2). Arkitekture penyelesaian:
Skema ini menggunakan 5 juta kamera senyawa kecil dan platform pembangunan algoritma VM untuk melaksanakan pemeriksaan ke atas wafer silikon dalam bak bunga.
(1) Idea proses:
(2) Idea pemilihan: Objek pemeriksaan adalah wafer silikon dalam bak bunga. Untuk mengekalkan kestabilan ciri-ciri dan mengelakkan terlebihnya pemeriksaan perbezaan ketinggian disebabkan oleh sudut ketidaksamaan yang berlebihan, cahaya permukaan 4-bukaan dipilih untuk menutupi medan pandangan imej, dan sudut masukan kamera dikurangkan serta risiko terlebihnya pemeriksaan perbezaan ketinggian dikurangkan melalui pemeriksaan berturutan oleh beberapa kamera dan beberapa rantau.
(3) Idea penyelarasan: Tukar pengimbasan imej supaya aras kelabu wafer silikon dalam setiap imej kamera adalah lebih kurang seragam, untuk memastikan kualiti zon peralihan 1 hingga 2 piksel pada tepi wafer silikon dan latar belakang, tukar kedudukan sensor dan semak dengan elektrik, sejauh mungkin untuk memastikan bahawa bak bunga berada di pusat imej dalam kamera.
3). Kelebihan program:
1. kualiti imej: kecerlangan seragam, tiada deformasi peregangan, kawasan peralihan tepi jelas.
2. masa algoritma: komputer industri 1 tarik 8, pemeriksaan palang konveyor dua dan kestabilan mengambil 2s.
3. keluwesan adegan: kadar terlepas <1%, kadar pengesanan palsu <1%.
4. nilai pelanggan: tindakan mengeluarkan silikon wafer yang rosak dilaksanakan di luar mesin penapis, dan ruang susunan untuk beberapa set bakul bunga telah dipertimbangkan, supaya seorang pekerja boleh mengambil kira beberapa baris, mencapai peningkatan produktiviti sambil mengelakkan pelaburan tenaga kerja yang besar.
EN
