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半導体/集積回路

半導体製造のプレミドルプロセスでは、マシンビジョンは主に精密な位置決めと検出に使用され、ポストプロセスには主にウェーハの電気的検出、切断、パッケージング、および検出が含まれます。マシンビジョンは、半導体業界が機器をアップグレードし、生産ラインのプロセスレベルを改善し、現代産業のコアテクノロジーの1つである製品の品質と歩留まりを向上させるのに役立ちます。

共有
Semiconductors/Integrated Circuits

業界概要


1. 電子部品の外観検査


SMD製品、シリコンウェーハなどの小型電子部品の外観を検出します


測定対象物の表面を高速かつ自動的に撮影した後、データは欠陥製品を見つけるための処理のためにコンピューターに送信され、欠陥の種類には印刷エラー、コンテンツエラー、画像エラー、方向エラー、印刷ミス、表面欠陥などがあります。

图一

2.チップの外観を確認します


テストICチップのサイズ、外観、平坦度など


ピンの数と、ピッチ間隔、幅、高さ、曲率など、ピンの複数の位置の幾何学的寸法を確認します。チップの継続的、効率的、迅速な外観検出を実現するためには、検出効率を向上させ、人件費を節約し、労働者の労働集約度を減らし、さらに重要なことに、検出の精度を確保します。

图二

3. PCBプリント回路の検出


PCBプリント回路基板の外観サイズ、位置、欠陥などを検出します


PCBプリント回路基板コンポーネントの位置、はんだ接合部、ライン、穴のサイズ、角度測定をテストします。コンピュータマイクロ通信インターフェース、SIMカードスロット。SMTコンポーネントの配置、表面実装、表面検出。SPIはんだペースト検査、リフローはんだ付け、ウェーブはんだ付け。ケーブルコネクタの数などを確認して測定します。

图三

ダブルプローブ位置決め電圧測定項目

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