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반도체/집적회로

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반도체/집적회로

반도체 제조의 중간 전 공정에서 머신 비전은 주로 정밀 위치 지정 및 검출에 사용되고, 후 공정은 주로 웨이퍼의 전기 검출, 절단, 패키징 및 검출을 포함합니다. 머신 비전은 반도체 산업이 장비를 업그레이드하고, 생산 라인의 공정 수준을 개선하고, 제품의 품질과 수율을 개선하는 데 도움이 되며, 이는 현대 산업의 핵심 기술 중 하나입니다.

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산업 전반


1. 전자 부품의 외관 검사


SMD 제품, 실리콘 웨이퍼와 같은 작은 전자 부품의 모습을 감지


측정 대상의 표면에 대한 고속 자동 사진 촬영 후, 데이터가 컴퓨터로 전송되어 고장있는 제품을 확인하기 위해 처리됩니다. 결함 유형에는 인쇄 오류, 내용 오류, 이미지 오류, 방향 오류, 인쇄가 빠진 것, 표면 결함 등이 포함됩니다.

图一

2. 칩의 외모를 확인


테스트 칩 크기, 외관, 평면성 등


칩의 연속적이고 효율적이고 빠른 외모 검출을 달성하기 위해 칩의 피치 간격, 너비, 높이, 곡률 등을 포함한 핀의 수와 여러 위치의 기하학적 차원을 확인하고 검출 효율성을 향상시키고 인력 비용을 절감하고 노동자의 노동 강도를 줄이고 더 중요한 것은 검출의 정확성을 보장합니다

图二

3. PCB 인쇄 회로 탐지


PCB 인쇄 회로 보드 외모 크기, 위치, 결함 등을 감지


테스트 PCB 인쇄 회로 보드 부품 위치, 용접 관절, 라인, 구멍 크기, 각도 측정; 컴퓨터 마이크로 통신 인터페이스, 심 카드 슬롯; smt 부품 배치, 표면 장착, 표면 감지; spi 용접 페스트 검사, 재 흐름 용접 및 파동 용접; 케이블 커넥터 수를 확인하고 측정 등.

图三

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이중 탐사 위치 전압 측정 항목

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