Semua kategori

Semikonduktor / Litar Bersepadu

Rumah >  Penyelesaian >  Semikonduktor / Litar Bersepadu

Semikonduktor / Litar Bersepadu

Dalam proses pra-pertengahan pembuatan semikonduktor, penglihatan mesin digunakan terutamanya dalam kedudukan dan pengesanan ketepatan, dan pasca proses terutamanya melibatkan pengesanan elektrik, pemotongan, pembungkusan dan pengesanan wafer. Penglihatan mesin membantu industri semikonduktor untuk menaik taraf peralatan, meningkatkan tahap proses barisan pengeluaran, dan meningkatkan kualiti dan hasil produk, yang merupakan salah satu teknologi teras industri moden.

Berkongsi
Semiconductors/Integrated Circuits

Gambaran keseluruhan industri


1. Pemeriksaan penampilan komponen elektronik


Mengesan kemunculan komponen elektronik kecil, seperti produk SMD, wafer silikon


Selepas foto berkelajuan tinggi dan automatik diambil dari permukaan objek yang diukur, data dihantar ke komputer untuk diproses bagi mengetahui produk yang rosak, jenis kecacatan termasuk ralat percetakan, ralat kandungan, ralat imej, ralat arah, percetakan terlepas, kecacatan permukaan, dsb.

图一

2. Periksa penampilan cip


Uji saiz cip IC, penampilan, kerataan, dsb


Periksa bilangan pin dan dimensi geometri berbilang kedudukan pin, termasuk jarak padang, lebar, ketinggian, kelengkungan, dsb. Untuk mencapai pengesanan penampilan cip yang berterusan, cekap dan pantas, meningkatkan kecekapan pengesanan, menjimatkan kos buruh dan mengurangkan intensiti buruh pekerja, dan yang lebih penting, memastikan ketepatan pengesanan.

图二

3. Pengesanan litar bercetak PCB


Mengesan saiz penampilan papan litar bercetak PCB, kedudukan, kecacatan, dan lain-lain


Uji kedudukan komponen papan litar bercetak PCB, sambungan pateri, garisan, saiz lubang, pengukuran sudut; Antara muka komunikasi mikro komputer, slot kad SIM; Penempatan komponen SMT, pemasangan permukaan, pengesanan permukaan; Pemeriksaan pes pateri SPI, pematerian aliran semula dan pematerian gelombang; Periksa dan ukur bilangan penyambung kabel dan sebagainya.

图三

Sebelum

Item pengukuran voltan kedudukan probe berganda

Semua aplikasiSeterusnya

Tiada

InquirySiasatan

Hubungi HIFLY hari ini:

Nama
Syarikat
Mudah alih
Negara
E-mel
Mesej
0/1000
EmailE-melWhatsAppWahana WhatsAppWeChat WeChat
WeChat
TopAtas

Kes Cemerlang