pred rezanjem/rezanjem/laminiranjem/izvlekanjem se kamera linearne nize uporablja za odkrivanje napak na sprednji in zadnji strani anode in katode, da se zagotovi izhod. in vse zahteve in standardi za odkrivanje napak elektrod so podobni.
Delitev
1) Področje projekta:
opis zahtev:
odkrivanje in razvrščanje napak površine palice
najmanjša potrebna natančnost je 0,2 mm2
tehnične zahteve:
Posebni in negativni elementi za odkrivanje napak ter specifikacije so naslednji:
folija z izpuščanjem elektrod < 1 mm × 1 mm
črna pika bela pika < 3 mm
temna oznaka < 10 mm × 1 mm
mehurček < 1 mm × 1 mm
dolžina bele črte < 40 mm
rumeni preskus 15 mm × 15 mm
Kaseta se takoj zazna.
širina jame/vnikanja < 4 mm
je odkrito, da je razvaljena
širina robov ≤ 0,2 mm
Zmleka na palici je odvisna od situacije.
lepilna snov se zazna takoj, ko je prisotna
črna trak/črna črta dolžine < 40 mm
Prljavščina je odvisna od situacije.
2) arhitektura rešitev:
opis sheme:
trak/valčnik poganja gibanje filma na palici, ustavi in teče na izmenjavo ter uporablja režim sprožilca okvirja in črte za nadzor risbe kamere za skeniranje linij. dve 8k linijski skenerski kamere (z različnimi ločljivostmi glede na različno širino palice) se izberejo za fotografiranje spred
diagram erekcije:
3) prednosti programa:
1.podpirati kombinacijo tradicionalnih algoritmov in globokega učenja ter sprejeti optimalno rešitev za različne napake;
2.podpira funkcijo razvrščanja vseh ugotovljenih napak in lahko odpre pogoje za odkrivanje v skladu z zahtevami stranke;
3.izkoristek algoritma je visok, velika hitrost obdelave slike je stabilna na nizki ravni, da bi zadovoljila visoke hitrosti industrije litijskih baterij;
4. prilagojene funkcije, vključno z, vendar ne omejeno na podatke glede na prenos celic, prilagodljiv svetlobni vir, odkrivanje napak, avtomatsko pridobivanje vrednosti procesa, tri stopnje pooblastila, avtomatsko shranjevanje in brisanje, ponastavitev in ponovno rezanje in druge praktične funkcije.
EN
